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集成电路 CMOS图像传感器测试方法
2025-05-29
微析研究院
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国家标准
国家标准《集成电路 CMOS图像传感器测试方法》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
主要起草单位中国科学院长春光学精密机械与物理研究所、重庆光电技术研究所、天津大学、长春精测光电技术有限公司、中国电子技术标准化研究院、深圳佑驾创新科技有限公司。
主要起草人李俊霖 、张涛 、兰太吉 、杨永强 、赵宇 、聂真威 、韩冰 、金辉 、马洪涛 、卢岩 、徐江涛 、刘昌举 、唐延甫 、聂凯明 、李金 、高志远 、马悦 、刘国清 、王琪 、刘秀娟 。
标准号：GB/T 43063-2023发布日期：2023-09-07实施日期：2024-01-01标准类别：方法中国标准分类号：L54国际标准分类号：31.200 归口单位：全国集成电路标准化技术委员会执行单位：全国集成电路标准化技术委员会主管部门：工业和信息化部（电子）
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所天津大学中国电子技术标准化研究院重庆光电技术研究所长春精测光电技术有限公司深圳佑驾创新科技有限公司
李俊霖张涛赵宇聂真威马洪涛卢岩唐延甫聂凯明马悦刘国清兰太吉杨永强韩冰金辉徐江涛刘昌举李金高志远王琪刘秀娟
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