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元器件位移损伤试验方法
2025-05-29
微析研究院
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国家标准
国家标准《元器件位移损伤试验方法》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
主要起草单位中国空间技术研究院、中国工程物理研究院核物理与化学研究所、西北核技术研究院、中国电子科技集团公司第四十四研究所、中国科学院新疆理化技术研究所、扬州大学。
主要起草人罗磊 、于庆奎 、唐民 、朱恒静 、张洪伟 、郑春 、陈伟 、丁李利 、汪朝敏 、李豫东 、文林 、薛玉雄 。
标准号：GB/T 42969-2023发布日期：2023-09-07实施日期：2024-01-01标准类别：方法中国标准分类号：L56国际标准分类号：31.200 归口单位：全国集成电路标准化技术委员会执行单位：全国集成电路标准化技术委员会主管部门：工业和信息化部（电子）
中国空间技术研究院西北核技术研究院中国科学院新疆理化技术研究所中国工程物理研究院核物理与化学研究所中国电子科技集团公司第四十四研究所扬州大学
罗磊于庆奎张洪伟郑春汪朝敏李豫东唐民朱恒静陈伟丁李利文林薛玉雄
FZ/T 01032-2012 织物及制品缝纫损伤的试验方法20230978-T-339 电子组件用元器件和零件的晶须试验方法JB/T 4291-1999 焊接接头裂纹张开位移(COD)试验方法HB 8619-2021 航空用聚合物基复合材料落锤冲击损伤阻抗试验方法JT/T 974-2015 公路工程土工合成材料 机械损伤试验方法HB 8620-2021 航空用聚合物基复合材料层合板集中准静态压痕力损伤阻抗试验方法GB/T 27821-2011 化学品细菌DNA损伤或修复试验方法JB/T 10080.2-2011 光栅线位移测量系统 第2部分：光栅线位移传感器JB/T 7575-2013 机械产品及元器件寒冷环境大气暴露试验方法和导则JB/T 7575-1994 机械产品及元器件寒冷环境大气暴露试验方法和导则
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