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半导体探测器X射线能谱仪通则
2025-05-29
微析研究院
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国家标准
国家标准《半导体探测器X射线能谱仪通则》由TC38（全国微束分析标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准委。
主要起草单位中国科学院地质与地球物理研究所。
主要起草人曾荣树 、徐文东 、马玉光 、范逛等 。
标准号：GB/T 20726-2006发布日期：2006-12-25实施日期：2007-08-01废止日期：2016-09-01标准类别：方法中国标准分类号：N53国际标准分类号：71.040.99 归口单位：全国微束分析标准化技术委员会执行单位：全国微束分析标准化技术委员会主管部门：国家标准委
本标准等同采用ISO国际标准：ISO 15632:2002。采标中文名称:半导体探测器X射线能谱仪通则。
中国科学院地质与地球物理研究所
曾荣树徐文东马玉光范逛
GB/T 21006-2007 表面化学分析X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪强度标的线性SJ/T 10714-1996 检查X射线光电子能谱仪工作特性的标准方法20233692-T-464 医用电气设备X射线诊断影像中使用的电离室和（或）半导体探测器剂量计GB/T 11685-2003 半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法GB/T 25184-2010 X射线光电子能谱仪检定方法GB/T 22571-2017 表面化学分析 X射线光电子能谱仪 能量标尺的校准GB/T 19629-2005 医用电气设备X射线诊断影像中使用的电离室和（或）半导体探测器剂量计20242560-T-306 能量色散X射线荧光光谱分析方法通则JY/T 0587-2020 多晶体X射线衍射方法通则20241618-T-469 微束分析 扫描电镜（SEM）或电子探针（EPMA）用X射线能谱仪（EDS）主要性能参数及核查方法
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