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半导体器件 集成电路 第11部分:第1篇:半导体集成电路 内部目检 （不包括混合电路）
2025-05-29
微析研究院
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国家标准
国家标准《半导体器件 集成电路 第11部分:第1篇:半导体集成电路 内部目检 （不包括混合电路）》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
主要起草单位信息产业部第四研究所。
标准号：GB/T 19403.1-2003发布日期：2003-11-24实施日期：2004-08-01标准类别：产品中国标准分类号：L56国际标准分类号：31.200 归口单位：全国集成电路标准化技术委员会执行单位：全国集成电路标准化技术委员会主管部门：工业和信息化部（电子）
本标准等同采用IEC国际标准：IEC 60748-11-1:1992。采标中文名称:。
信息产业部第四研究所
GB/T 43035-2023 半导体器件 集成电路 第20部分：膜集成电路和混合膜集成电路总规范 第一篇：内部目检要求GB/T 12750-2006 半导体器件集成电路第11部分：半导体集成电路分规范（不包括混合电路）GB/T 11498-2018 半导体器件 集成电路 第21部分：膜集成电路和混合膜集成电路分规范（采用鉴定批准程序）20233686-T-339 半导体器件 集成电路第2部分：数字集成电路 第八篇：集成电路静态读/写存储器空白详细规范GB/T 17574.11-2006 半导体器件 集成电路 第2-11部分：数字集成电路 单电源集成电路电可擦可编程只读存储器 空白详细规范GB/T 5965-2000 半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第一篇双极型单片数字集成电路门电路（不包括自由逻辑阵列） 空白详细规范GB/T 17574-1998 半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路GB/T 17940-2000 半导体器件集成电路第3部分:模拟集成电路GB/T 20515-2006 半导体器件 集成电路 第5部分：半定制集成电路GB/T 13062-2018 半导体器件 集成电路 第21-1部分：膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范（采用鉴定批准程序）
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