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金属氧化物半导体气敏元件测试方法
2025-05-29
微析研究院
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国家标准
国家标准《金属氧化物半导体气敏元件测试方法》由339-1(工业和信息化部(电子))归口,主管部门为工业和信息化部(电子)。
主要起草单位电子工业部标准化研究所。
标准号:GB/T 15653-1995发布日期:1995-07-24实施日期:1996-04-01标准类别:方法中国标准分类号:L15国际标准分类号:31.020 归口单位:工业和信息化部(电子)执行单位:工业和信息化部(电子)主管部门:工业和信息化部(电子)
电子工业部标准化研究所
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