网站首页 标准依据 国家标准 纳米技术 二硫化钼薄片的层数测量 拉曼光谱法

纳米技术 二硫化钼薄片的层数测量 拉曼光谱法

2025-05-29

微析研究院

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国家标准

国家标准《纳米技术 二硫化钼薄片的层数测量 拉曼光谱法》由TC279(全国纳米技术标准化技术委员会)归口,主管部门为中国科学院。

主要起草单位中国科学院半导体研究所、河北大学、泰州巨纳新能源有限公司、东南大学、厦门凯纳石墨烯技术股份有限公司、堀场(中国)贸易有限公司、中国科学院物理研究所、天津大学、国家纳米科学中心。

主要起草人谭平恒 、刘雪璐 、林妙玲 、李晓莉 、丁荣 、章琦 、倪振华 、黄卫明 、沈婧 、杨洋 、何清 、高洁 、邵悦 。

国家标准介绍

基础信息

标准号:GB/T 44935-2024发布日期:2024-12-31实施日期:2025-07-01标准类别:方法中国标准分类号:N35国际标准分类号:17.180.30 归口单位:全国纳米技术标准化技术委员会执行单位:全国纳米技术标准化技术委员会主管部门:中国科学院

起草单位

中国科学院半导体研究所泰州巨纳新能源有限公司厦门凯纳石墨烯技术股份有限公司中国科学院物理研究所国家纳米科学中心河北大学东南大学堀场(中国)贸易有限公司天津大学

起草人

谭平恒刘雪璐丁荣章琦沈婧杨洋邵悦林妙玲李晓莉倪振华黄卫明何清高洁

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