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硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法
2025-05-29 14:49:34
微析研究院
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国家标准
国家标准《硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准委。
主要起草单位峨嵋半导体材料厂。
标准号：GB/T 1553-1997发布日期：1997-06-03实施日期：1997-12-01废止日期：2010-06-01标准类别：方法中国标准分类号：H21国际标准分类号：77.040.01 归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会执行单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会主管部门：国家标准委
本标准等效采用ITU国际标准：ASTM F28:1990。采标中文名称:。
峨嵋半导体材料厂
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