网站首页 标准依据 国家标准 表面化学分析 二次离子质谱 静态二次离子质谱相对强度标的重复性和一致性

表面化学分析 二次离子质谱 静态二次离子质谱相对强度标的重复性和一致性

2025-05-29

微析研究院

0

国家标准

国家标准《表面化学分析 二次离子质谱 静态二次离子质谱相对强度标的重复性和一致性》由TC608(全国表面化学分析标准化技术委员会)归口,主管部门为中国科学院。

主要起草单位北京师范大学、清华大学、中国科学院物理研究所、中国计量科学研究院、北京化工大学。

主要起草人吴正龙 、李展平 、陆兴华 、王海 、程斌 。

国家标准介绍

基础信息

标准号:GB/T 43663-2024发布日期:2024-03-15实施日期:2024-10-01标准类别:方法中国标准分类号:G04国际标准分类号:71.040.40 归口单位:全国表面化学分析标准化技术委员会执行单位:全国表面化学分析标准化技术委员会主管部门:中国科学院

采标情况

本标准等同采用ISO国际标准:ISO 23830:2008。采标中文名称:表面化学分析 二次离子质谱 静态二次离子质谱相对强度标的重复性和一致性。

起草单位

北京师范大学中国科学院物理研究所北京化工大学清华大学中国计量科学研究院

起草人

吴正龙李展平程斌陆兴华王海

相近标准(计划)

20232366-T-469 表面化学分析 二次离子质谱 单离子计数飞行时间质谱分析器的强度标线性GB/T 40129-2021 表面化学分析二次离子质谱飞行时间二次离子质谱仪质量标校准GB/T 25186-2010 表面化学分析 二次离子质谱-由离子注入参考物质确定相对灵敏度因子20232769-T-469 表面化学分析二次离子质谱用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度GB/T 40109-2021 表面化学分析 二次离子质谱 硅中硼深度剖析方法GB/T 32495-2016 表面化学分析二次离子质谱硅中砷的深度剖析方法SJ/T 11493-2015 硅衬底中氮浓度的二次离子质谱测量方法SJ/T 11498-2015 重掺硅衬底中氧浓度的二次离子质谱测量方法GB/T 24575-2009 硅和外延片表面Na、Al、K和Fe的二次离子质谱检测方法GB/T 20176-2006 表面化学分析二次离子质谱用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度

客户案例 

Customer Cases

产品检测

成分分析

性能检测

产品研发

微析研究院客户服务流程 

01

确定需求

欢迎来公司实验室考察

或与工程师电话沟通业务需求

02

寄送样品

微析院所工程师上门取样

或自寄送样品到微析指定院所

03

分析检测

样品分析/检测

技术工程师开始制作分析汇总报告

04

出具报告

寄送报告,工程师主动售后回访

解决您的售后疑惑

多地实验室 

Laboratories in Multiple Locations

院所团队

院所环境

仪器设备

关于院所 

About Institutes

微析·国内大型研究型检测中心

微析研究所总部位于北京,拥有数家国内检测、检验(监理)、认证、研发中心,1家欧洲(荷兰)检验、检测、认证机构,以及19家国内分支机构。微析研究所拥有35000+平方米检测实验室,超过2000人的技术服务团队。

业务领域覆盖全国,专注为高分子材料、金属、半导体、汽车、医疗器械等行业提供大型仪器测试(光谱、能谱、质谱、色谱、核磁、元素、离子等测试服务)、性能测试、成分检测等服务;致力于化学材料、生物医药、医疗器械、半导体材料、新能源、汽车等领域的专业研究,为相关企事业单位提供专业的技术服务。

微析研究所是先进材料科学、环境环保、生物医药研发及CMC药学研究、一般消费品质量服务、化妆品研究服务、工业品服务和工程质量保证服务的全球检验检测认证 (TIC)服务提供者。微析研究所提供超过25万种分析方法的组合,为客户实现产品或组织的安全性、合规性、适用性以及持续性的综合检测评价服务。

CMA检测资质

数据严谨精准

独立公正立场

服务领域广泛

服务客户

+

出具报告

+

专业人员

+

实验仪器

+

服务优势 

确定需求

欢迎来公司实验室考察

或与工程师电话沟通业务需求

寄送样品

微析院所工程师上门取样

或自寄送样品到微析指定院所

分析检测

样品分析/检测

技术工程师开始制作分析汇总报告

出具报告

寄送报告,工程师主动售后回访

解决您的售后疑惑

院所资讯 

Industry News

首页 领域 范围 电话