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半导体集成电路 模拟数字(AD)转换器
2025-05-29 15:07:30
微析研究院
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国家标准
国家标准《半导体集成电路 模拟数字(AD)转换器》由TC599(全国集成电路标准化技术委员会)归口,主管部门为工业和信息化部(电子)。
主要起草单位中国电子技术标准化研究院、杭州电子科技大学、成都华微电子科技股份有限公司、成都振芯科技股份公司、中国电子科技集团公司第五十八研究所、中国电子科技集团公司第二十四研究所、四川翊晟芯科信息技术有限公司、北京芯可鉴科技有限公司、中国科学院半导体研究所、广东伟照业光电节能有限公司、惠阳东亚电子制品有限公司、杭州万高科技股份有限公司。
主要起草人李锟 、邢浩 、张驰 、李大刚 、王会影 、张涛 、雷郎成 、谢红建 、钟明琛 、李文昌 、董鸿亮 、王永军 、林玲 、隋春娟 。
标准号:GB/T 42839-2023发布日期:2023-08-06实施日期:2023-12-01标准类别:产品中国标准分类号:L56国际标准分类号:31.200 归口单位:全国集成电路标准化技术委员会执行单位:全国集成电路标准化技术委员会主管部门:工业和信息化部(电子)
中国电子技术标准化研究院成都华微电子科技股份有限公司中国电子科技集团公司第五十八研究所四川翊晟芯科信息技术有限公司中国科学院半导体研究所惠阳东亚电子制品有限公司杭州电子科技大学成都振芯科技股份公司中国电子科技集团公司第二十四研究所北京芯可鉴科技有限公司广东伟照业光电节能有限公司杭州万高科技股份有限公司
李锟邢浩王会影张涛钟明琛李文昌林玲隋春娟张驰李大刚雷郎成谢红建董鸿亮王永军
GB/T 42973-2023 半导体集成电路 数字模拟(DA)转换器GB/T 18500.2-2001 半导体器件集成电路第4部分:接口集成电路第二篇:线性模拟/数字转换器(ADC)空白详细规范GB/T 18500.1-2001 半导体器件集成电路第4部分:接口集成电路第一篇:线性数字/模拟转换器(DAC)空白详细规范SJ/T 10804-2000 半导体集成电路 电平转换器测试方法的基本原理SJ/T 10252-1991 半导体集成电路CB7660型CMOS电源电压转换器详细规范GB/T 35006-2018 半导体集成电路 电平转换器测试方法GB/T 17940-2000 半导体器件集成电路第3部分:模拟集成电路SJ/T 10254-1991 半导体集成电路CB301型CMOS模拟开关详细规范SJ/T 10250-1991 半导体集成电路CB565型模拟锁相环详细规范GB/T 14028-2018 半导体集成电路 模拟开关测试方法
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