网站首页 标准依据 国家标准 无损检测 工业射线计算机层析成像检测 第1部分:原理、设备和样品

无损检测 工业射线计算机层析成像检测 第1部分:原理、设备和样品

2025-05-29

微析研究院

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国家标准

国家标准《无损检测 工业射线计算机层析成像检测 第1部分:原理、设备和样品》由TC56(全国无损检测标准化技术委员会)归口,主管部门为国家标准委。

主要起草单位清华大学、中国兵器科学研究院宁波分院、北京固鸿科技有限公司、上海材料研究所、重庆大学、重庆真测科技股份有限公司、湖北三江航天江北机械工程有限公司、航天智造(上海)科技有限责任公司、中信戴卡股份有限公司、上海奕瑞光电子科技股份有限公司。

主要起草人肖永顺 、乔日东 、叶青 、蒋建生 、王珏 、丁杰 、蔡玉芳 、齐子诚 、运明华 、王晓勇 、徐国珍 、刘军 、杨龙 。

国家标准介绍

基础信息

标准号:GB/T 41123.1-2021发布日期:2021-12-31实施日期:2022-07-01标准类别:基础中国标准分类号:J04国际标准分类号:19.100 归口单位:全国无损检测标准化技术委员会执行单位:全国无损检测标准化技术委员会主管部门:国家标准委

采标情况

本标准等同采用ISO国际标准:ISO 15708-2:2017。采标中文名称:无损检测 射线计算机层析成像检测 第2部分:原理、设备和样品。

起草单位

清华大学北京固鸿科技有限公司重庆大学湖北三江航天江北机械工程有限公司中信戴卡股份有限公司中国兵器科学研究院宁波分院上海材料研究所重庆真测科技股份有限公司航天智造(上海)科技有限责任公司上海奕瑞光电子科技股份有限公司

起草人

肖永顺乔日东王珏丁杰运明华王晓勇杨龙叶青蒋建生蔡玉芳齐子诚徐国珍刘军

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