欢迎访问第三方检测公司!
欢迎访问第三方检测公司!
MEMS压阻式压力敏感芯片性能的圆片级试验方法
2025-05-29
微析研究院
0
国家标准
国家标准《MEMS压阻式压力敏感芯片性能的圆片级试验方法》由TC336（全国微机电技术标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准委。
主要起草单位北京大学、中机生产力促进中心、北京必创科技股份有限公司、中国电子科技集团公司第十三研究所、中北大学。
主要起草人张威 、程红兵 、陈得民 、李海斌 、崔波 、石云波 、朱悦 。
标准号：GB/T 33922-2017发布日期：2017-07-12实施日期：2018-02-01标准类别：方法中国标准分类号：L55国际标准分类号：31.200 归口单位：全国微机电技术标准化技术委员会执行单位：全国微机电技术标准化技术委员会主管部门：国家标准委
北京大学北京必创科技股份有限公司中北大学中机生产力促进中心中国电子科技集团公司第十三研究所
张威程红兵崔波石云波陈得民李海斌朱悦
GB/T 42191-2023 MEMS压阻式压力敏感器件性能试验方法20242019-T-469 微机电系统（MEMS）技术 MEMS硅压阻温压复合压力传感器芯片GB/T 28856-2012 硅压阻式压力敏感芯片JB/T 10524-2005 硅压阻式压力传感器JB/T 12937-2016 压阻式陶瓷压力传感器SJ/T 10429-1993 压阻式压力传感器总规范SJ/T 10430-1993 压阻式压力传感器空白详细规范20242021-T-469 微机电系统（MEMS）技术MEMS电容式麦克风性能试验方法GB/T 26807-2011 硅压阻式动态压力传感器GB/T 32815-2016 硅基MEMS制造技术体硅压阻加工工艺规范
上一篇：行星齿轮传动设计方法
下一篇：汽车动力蓄电池编码规则
Customer Cases
产品检测
成分分析
性能检测
产品研发
01
欢迎来公司实验室考察
或与工程师电话沟通业务需求
02
微析院所工程师上门取样
或自寄送样品到微析指定院所
03
样品分析/检测
技术工程师开始制作分析汇总报告
04
寄送报告，工程师主动售后回访
解决您的售后疑惑
Laboratories in Multiple Locations
About Institutes
微析·国内大型研究型检测中心
微析研究所总部位于北京，拥有数家国内检测、检验（监理）、认证、研发中心，1家欧洲（荷兰）检验、检测、认证机构，以及19家国内分支机构。微析研究所拥有35000+平方米检测实验室，超过2000人的技术服务团队。
业务领域覆盖全国，专注为高分子材料、金属、半导体、汽车、医疗器械等行业提供大型仪器测试(光谱、能谱、质谱、色谱、核磁、元素、离子等测试服务)、性能测试、成分检测等服务；致力于化学材料、生物医药、医疗器械、半导体材料、新能源、汽车等领域的专业研究，为相关企事业单位提供专业的技术服务。
微析研究所是先进材料科学、环境环保、生物医药研发及CMC药学研究、一般消费品质量服务、化妆品研究服务、工业品服务和工程质量保证服务的全球检验检测认证 (TIC)服务提供者。微析研究所提供超过25万种分析方法的组合，为客户实现产品或组织的安全性、合规性、适用性以及持续性的综合检测评价服务。
CMA检测资质
数据严谨精准
独立公正立场
服务领域广泛
+
+
+
+
欢迎来公司实验室考察
或与工程师电话沟通业务需求
微析院所工程师上门取样
或自寄送样品到微析指定院所
样品分析/检测
技术工程师开始制作分析汇总报告
寄送报告，工程师主动售后回访
解决您的售后疑惑
Industry News
[06-28]
[06-28]
[06-28]
[06-28]
[06-28]
[06-28]
[06-28]
[06-28]
[06-28]
[06-28]
[06-28]
[06-28]
[06-28]
[06-28]
[06-28]
[06-28]
[06-28]
[06-28]
[06-28]
[06-28]
[06-28]
[06-28]
[06-28]
[06-28]
[06-28]
[06-28]
[06-28]
[06-28]
[06-28]
[06-28]
