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碳化硅单晶片直径测试方法
2025-05-29
微析研究院
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国家标准
国家标准《碳化硅单晶片直径测试方法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，TC203SC2（全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会）执行，主管部门为国家标准委。
主要起草单位中国电子科技集团公司第四十六研究所、中国电子技术标准化研究院。
主要起草人丁丽 、周智慧 、蔺娴 、郝建民等 。
标准号：GB/T 30866-2014发布日期：2014-07-24实施日期：2015-02-01标准类别：方法中国标准分类号：H83国际标准分类号：29.045 归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会执行单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会主管部门：国家标准委
中国电子科技集团公司第四十六研究所中国电子技术标准化研究院
丁丽周智慧蔺娴郝建民
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