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硅材料原生缺陷图谱
2025-05-29
微析研究院
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国家标准
国家标准《硅材料原生缺陷图谱》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准委。
主要起草单位有研半导体材料股份有限公司、东方电气集团峨眉半导体材料有限公司、南京国盛电子有限公司、杭州海纳半导体有公司、万向硅峰电子股份有限公司、四川新光硅业科技有限责任公司、陕西天宏硅材料有限责任公司、中国有色金属工业标准化计量质量研究所。
主要起草人孙燕 、曹孜 、翟富义 、杨旭 、谭卫东 、黄笑容等 。
标准号：GB/T 30453-2013发布日期：2013-12-31实施日期：2014-10-01标准类别：基础中国标准分类号：H80国际标准分类号：29.045 归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会执行单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会主管部门：国家标准委
有研半导体材料股份有限公司南京国盛电子有限公司万向硅峰电子股份有限公司陕西天宏硅材料有限责任公司东方电气集团峨眉半导体材料有限公司杭州海纳半导体有公司四川新光硅业科技有限责任公司中国有色金属工业标准化计量质量研究所
孙燕曹孜谭卫东黄笑容翟富义杨旭
GB/T 18000-1999 木材缺陷图谱YS/T 1465-2021 钛及钛合金加工产品外观缺陷术语及图谱GB/T 8756-2018 锗晶体缺陷图谱GB/T 35316-2017 蓝宝石晶体缺陷图谱GB/T 43612-2023 碳化硅晶体材料缺陷图谱20232192-T-610 钛及钛合金术语和图谱JC/T 2342-2015 氮化硅材料相含量分析方法20240876-T-469 标准知识图谱第1部分：实现指南20231447-T-469 信息技术 云原生数据库技术要求20230714-T-469 人工智能 知识图谱 知识交换协议
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